规格书 |
NTD4909N |
文档 |
Qualification Multiple Devices 24/Sep/2013 |
Rohs | Lead free / RoHS Compliant |
标准包装 | 75 |
FET 型 | MOSFET N-Channel, Metal Oxide |
FET特点 | Logic Level Gate |
漏极至源极电压(VDSS) | 30V |
电流-连续漏极(编号)@ 25°C | 8.8A |
Rds(最大)@ ID,VGS | 8 mOhm @ 30A, 10V |
VGS(TH)(最大)@ Id | 2.2V @ 250µA |
栅极电荷(Qg)@ VGS | 17.5nC @ 10V |
输入电容(Ciss)@ Vds的 | 1314pF @ 15V |
功率 - 最大 | 1.37W |
安装类型 | Through Hole |
包/盒 | TO-251-3 Stub Leads, IPak |
供应商器件封装 | I-Pak |
包装材料 | Tube |
包装 | 3IPAK |
通道模式 | Enhancement |
最大漏源电压 | 30 V |
最大连续漏极电流 | 12.1 A |
RDS -于 | 8@10V mOhm |
最大门源电压 | ±20 V |
典型导通延迟时间 | 11|8 ns |
典型上升时间 | 21|19 ns |
典型关闭延迟时间 | 17|21 ns |
典型下降时间 | 2.7|2.3 ns |
工作温度 | -55 to 175 °C |
安装 | Through Hole |
标准包装 | Rail / Tube |
最大门源电压 | ±20 |
欧盟RoHS指令 | Compliant |
最高工作温度 | 175 |
标准包装名称 | IPAK |
最低工作温度 | -55 |
渠道类型 | N |
封装 | Rail |
最大漏源电阻 | 8@10V |
最大漏源电压 | 30 |
每个芯片的元件数 | 1 |
供应商封装形式 | IPAK |
最大功率耗散 | 2600 |
最大连续漏极电流 | 12.1 |
引脚数 | 3 |
FET特点 | Logic Level Gate |
安装类型 | Through Hole |
电流 - 连续漏极(Id ) @ 25 °C | 8.8A (Ta), 41A (Tc) |
的Vgs(th ) (最大)@ Id | 2.2V @ 250µA |
封装/外壳 | TO-251-3 Stub Leads, IPak |
供应商设备封装 | I-Pak |
开态Rds(最大)@ Id ,V GS | 8 mOhm @ 30A, 10V |
FET型 | MOSFET N-Channel, Metal Oxide |
功率 - 最大 | 1.37W |
漏极至源极电压(Vdss) | 30V |
输入电容(Ciss ) @ VDS | 1314pF @ 15V |
闸电荷(Qg ) @ VGS | 17.5nC @ 10V |
RoHS指令 | Lead free / RoHS Compliant |
产品种类 | MOSFET |
工厂包装数量 | 75 |
Vds - Drain-Source Breakdown Voltage | 30 V |
晶体管极性 | N-Channel |
Qg - Gate Charge | 17.5 nC |
Vgs - Gate-Source Voltage | 20 V |
下降时间 | 2.3 ns |
品牌 | ON Semiconductor |
通道数 | 1 Channel |
配置 | Single |
最高工作温度 | + 175 C |
晶体管类型 | 1 N-Channel |
Id - Continuous Drain Current | 12.1 A |
Rds On - Drain-Source Resistance | 8 mOhms |
RoHS | RoHS Compliant |
系列 | NTD4909N |
安装风格 | Through Hole |
最低工作温度 | - 55 C |
Pd - Power Dissipation | 2.6 W |
上升时间 | 19 ns |
技术 | Si |
NTD4909N-35G也可以通过以下分类找到
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