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74ABT18245ADGGRG4
| 制造商 | Texas Instruments Incorporated |
| 描述 | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 56-Pin TSSOP T/R IC SCAN TEST DEVICE 56TSSOP Specialty Function Logic Scan Test Devices |
| 分类 |
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商业参数
| 产品类别 | Specialty Function Logic | 标准包装数量 | Tape & Reel |
| 工厂包装数量 | 2000 | ||
合规参数
| RoHS | Lead free / RoHS Compliant | 抗辐射加固 | No |
电气参数
| 数据速率 | Bi-Directional | 逻辑类型 | ABT |
| 输出类型 | 3-State | 输出信号 | TTL |
| 位数 | 18 | 额定电压 | 5 V |
| 输出电压 | TTL | 供电电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 通道数量 | 18 | 元件数量 | 2 |
| 最小供电电压 | 4.5 V | 输入逻辑低电平 | TTL |
| 静态电流 (Iq) | 33000 uA | 传播延迟时间 | 13.6 ns |
机械参数
| 重量 | 0.008917 oz | 包装方式 | Tape & Reel (TR) |
| 安装类型 | Surface Mount | 安装样式 | SMD/SMT |
| 封装形式 | 56TSSOP | 冷却的封装 | TSSOP |
| 位数 | 56 | 供应商器件封装 | 56-TSSOP |
产品信息
| 系列 | SN74ABT18245A | 功能 | Scan Test Device with Bus Transceiver |
| 极性 | Non-Inverting | 技术 | BiCMOS |
| 输入数量及类型 | 1 Low/High | ||
环境参数
| 工作温度 | -40°C ~ 85°C | ||