SN74LVTH18502A Specialty Function Logic 系列
总线收发器 双通道 18 通道 3 状态 64 引脚 LQFP 收发器 IC 18 位扫描测试设备 专用功能逻辑 10 位总线/MOS 存储器驱动器 3.3V 兼容 扫描测试设备带 18 位通用总线收发器
如果您的项目需要高速数据传输或需要在总线上接口多个设备,Texas Instruments 的 SN74LVTH18502A 系列专用功能逻辑 IC 可能正是您所需要的。这些专用功能逻辑 IC 是为双18通道收发器设计的,每个收发器都能处理18位数据,使其非常适合需要高数据吞吐量的应用。
这些芯片通常出现在需要高效传输多组件之间数据的系统中,例如在网络设备、存储系统或高性能计算环境中。值得注意的一点是,它们能够在3.3V下工作,这使得它们能够与广泛的数字电路兼容,无需进行电平转换。
当工程师们需要具备强大、高速数据传输能力和通用总线收发器灵活性时,往往会选用这些 IC。18位通用总线收发器允许灵活的数据处理,而扫描测试功能则使调试和测试变得更加简便。采用64引脚LQFP封装,这些 IC 也易于集成到PCB设计中,在各种条件下都能提供可靠的性能和耐用性。
常见问答
SN74LVTH18502A Specialty Function Logic - 型号列表
共 3 个型号| 制造商零件编号 | 库存 | 价格 | 产品类别 | 标准包装数量 | 工厂包装数量 | 标准封装名称 | RoHS | 欧盟RoHS | 零件状态 | 抗辐射加固 | 电压 | 数据速率 | 逻辑类型 | 输出类型 | I/O 数量 | 输出信号 | 位数 | 额定电压 | 输出电压 | 供电电压 | 通道数量 | 元件数量 | 最大额定电流 | 输出1频率 | 最小供电电压 | 输入逻辑低电平 | 传播延迟(最大) | 静态电流 (Iq) | 传播延迟时间 | 输入逻辑高电平 | 静态电流(最大) | 输出源/灌电流 | 传播延迟 tpLH / tpHL(最大) | 共模瞬态抗扰度(最小) | 宽度 | 重量 | 包装方式 | 引脚样式 | 安装类型 | 安装样式 | 封装形式 | 冷却的封装 | 总长度 | 包装数量 | 外壳尺寸-插件 | 开关驱动电平 | 供应商器件封装 | 系列 | 工艺(或'制程',根据具体值如CMOS) | 功能 | 极性 | 软件 | 技术 | 射频系列/标准 | 印刷电路板数量 | 测试温度 | 工作温度 | 其他名称 | 产品特性 | 使用的IC/零件 | 总线保持 | SVHC | 海关税号 | 端接方式 | 引脚数 | 材料表面处理 | 基本单元 | 制造商全称 | 电路数 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP IC, SCAN TEST DEVICE, SMD, LQFP64 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers , 双 18位 非反相 通用总线收发器, 64针 LQFP封装 texas instruments | 2414 | 40: ¥64.175 | Specialty Function Logic | Trays | 160 | QFP | RoHS Compliant | Compliant | ACTIVE | No | 3.3 | Bi-Directional | LVT | 3-State | 5 V | LVTTL | 64 | 3.3 V | LVTTL | 3.3 V | 18 | 2 | Catalog | 160 | 2.7 V | LVTTL | 20 | 18000 uA | 20 ns | LVTTL | 24 | 64/-32 | 4.9 | Commercial | 10.2(Max) | 0.012088 oz | Tube | Gull-wing | Surface Mount | SMD/SMT | 64LQFP | LQFP | 10.2(Max) | LQFP | 1.45(Max) | Positive-Edge | 64-LQFP (10x10) | SN74LVTH18502A | BiCMOS | Scan Test Device with Universal Bus Transceiver | Non-Inverting | SCBS668C | BiCMOS | LVT | 64 | -40 to 85 | + 85 C | 296-8699 | Scan Test w/Uni Bus | View | - | :No SVHC (16-Dec-2013) | 85423190 | :SMD | :64 | :MSL 3 - 168 hours | :74 | - | - |
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP T/R IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP Specialty Function Logic 10-Bit Bus/MOS Mem Drv 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers texas instruments | 2000 | 48: ¥53.465 | Specialty Function Logic | Tape & Reel | 1000 | QFP | Lead free / RoHS Compliant | Compliant | ACTIVE | No | 3.3 | Bi-Directional | LVT | 3-State | 5 V | LVTTL | 64 | 3.3 V | LVTTL | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | 2 | Catalog | 160 | 2.7 V | LVTTL | 20 | 18000 uA | 20 ns | LVTTL | 24 | 64/-32 | 4.9 | Commercial | 10.2(Max) | 0.011993 oz | Tape and Reel | Gull-wing | Surface Mount | SMD/SMT | 64LQFP | LQFP | 10.2(Max) | LQFP | 1.45(Max) | Positive-Edge | 64-LQFP (10x10) | SN74LVTH18502A | BiCMOS | Scan Test Device with Universal Bus Transceiver | Non-Inverting | SCBS668C | BiCMOS | LVT | 64 | -40 to 85 | -40°C ~ 85°C | 296-14932-2 | Scan Test w/Uni Bus | View | Yes | - | - | - | - | - | - | Texas Instruments | 2 |
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers texas instruments | 80 | 25: ¥81.51 | Specialty Function Logic | Trays | 160 | QFP | Lead free / RoHS Compliant | Compliant | ACTIVE | No | 3.3 | Bi-Directional | LVT | 3-State | 5 V | LVTTL | 64 | 3.3 V | LVTTL | 2.7 V ~ 3.6 V | 18 | 2 | Catalog | 160 | 2.7 V | LVTTL | 20 | 18000 uA | 20 ns | LVTTL | 24 | 64/-32 | 4.9 | Commercial | 10.2(Max) | 0.012088 oz | Tray | Gull-wing | Surface Mount | SMD/SMT | 64LQFP | LQFP | 10.2(Max) | LQFP | 1.45(Max) | Positive-Edge | 64-LQFP (10x10) | SN74LVTH18502A | BiCMOS | Scan Test Device with Universal Bus Transceiver | Non-Inverting | SCBS668C | BiCMOS | LVT | 64 | -40 to 85 | -40°C ~ 85°C | - | - | - | Yes | - | - | - | - | - | - | - | - |

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