SN74LVTH182652A Specialty Function Logic 系列
总线XCVR双通道18路3态64引脚LQFP托盘专项逻辑10位总线接口F-F带3态输出IC扫描测试设备ABT 64-LQFP 3.3V ABT扫描测试设备带18位收发器和寄存器
Texas Instruments 的 SN74LVTH182652A 是一款双通道 18 路总线收发器,专为复杂数字系统中的高速数据传输设计。该器件工作在 3.3V 下,并具备双向 10 位总线接口,使其非常适合需要在多个设备之间进行高速数据传输的应用。
该芯片常用于需要快速处理大量数据的系统中,例如汽车电子、工业控制系统和网络设备。其三态输出允许多个设备共享同一总线而不引起信号冲突,在多主环境中有重要作用。
一个实际观察是,当工程师需要可靠地连接多个高速串行总线时,往往会选用此器件。能够对器件进行扫描测试有助于确保每个通道正常工作,这对于关键任务应用尤为重要。64 引脚 LQFP 封装提供了充足的连接端口,便于将其集成到 PCB 设计中。总体而言,SN74LVTH182652A 是实现系统设计中高速可靠数据传输的理想选择。
常见问答
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SN74LVTH182652A Specialty Function Logic - 型号列表
共 1 个型号| 制造商零件编号 | 库存 | 价格 | 产品类别 | 其他名称 | 标准包装数量 | 工厂包装数量 | 标准封装名称 | RoHS | 欧盟RoHS | 零件状态 | 抗辐射加固 | 电压 | 数据速率 | 逻辑类型 | 输出类型 | I/O 数量 | 输出信号 | 位数 | 额定电压 | 输出电压 | 供电电压 | 通道数量 | 元件数量 | 最大额定电流 | 输出1频率 | 最小供电电压 | 输入逻辑低电平 | 传播延迟(最大) | 静态电流 (Iq) | 传播延迟时间 | 输入逻辑高电平 | 静态电流(最大) | 输出源/灌电流 | 传播延迟 tpLH / tpHL(最大) | 共模瞬态抗扰度(最小) | 宽度 | 重量 | 包装方式 | 引脚样式 | 安装类型 | 安装样式 | 封装形式 | 冷却的封装 | 总长度 | 包装数量 | 外壳尺寸-插件 | 开关驱动电平 | 供应商器件封装 | 系列 | 工艺(或'制程',根据具体值如CMOS) | 产品特性 | 功能 | 极性 | 软件 | 技术 | 制造商全称 | 电路数 | 射频系列/标准 | 使用的IC/零件 | 印刷电路板数量 | 测试温度 | 工作温度 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin LQFP Tray Specialty Function Logic 10-Bit Bus Interface F-F W/3-State Otpt IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP 3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers texas instruments | 160 | 25: ¥120.19 | Specialty Function Logic | 296-14323 | Trays | 160 | QFP | RoHS Compliant | Compliant | ACTIVE | No | 3.3 | Bi-Directional | LVT | 3-State | 5 V | LVTTL | 64 | 3.3 V | LVTTL | 2.7 V to 3.6 V | 18 | 2 | Catalog | 160 | 2.7 V | LVTTL | 20 | 18500 uA | 20 ns | LVTTL | 24 | 64/-32 | 4.7 | Commercial | 10.2(Max) | 0.012088 oz | Tube | Gull-wing | Surface Mount | SMD/SMT | 64LQFP | LQFP | 10.2(Max) | LQFP | 1.45(Max) | Positive-Edge | 64-LQFP (10x10) | SN74LVTH182652A | BiCMOS | Scan Test w/ Reg | Scan Test Device with Bus Transceiver/Register | Non-Inverting | SCBS312C | BiCMOS | Texas Instruments | 2 | LVT | View | 64 | -40 to 85 | + 85 C |
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